<!DOCTYPE html> Тарасов Иван Анатольевич. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста — L.V. Kirensky Institute of Physics

Перейти к содержимому. | Перейти к навигации

Персональные инструменты

Вход

Navigation

Вы здесь: Главная / Советы / Диссертационные советы / Информация о диссертациях / Тарасов Иван Анатольевич. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста

Тарасов Иван Анатольевич. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста

Диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. Специальность 01.04.01 - приборы и методы экспериментальной физики

Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста

Диссертация размещена на сайте 20.06.2014

относится к: диссертации

Институт	Информация	Библиотека	История
Научные достижения	Учёный совет	О библиотеке	Л. В. Киренский
Научное оборудование	Семинары	Информационные ресурсы	Ученики и соратники Л.В. Киренского
Разработки	Конференции	Выставки	Историческая справка
Лаборатории	Советы по защите диссертаций	Препринты	Исторические документы
Дирекция	Совет молодых ученых	Поиск в электронном каталоге	Л.В. Киренскому - 100 лет
Сотрудники	Научные отчёты		Институту - 50 лет
Подразделения Института	Объявления		Мемориальный музей Л.В. Киренского
	Лекции для аспирантов		История создания лабораторий
	Бланки документов		Фоторепортажи