Сканирующий электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп S5500 (Hitachi, Япония)
Сканирующий электронный микроскоп S5500 использует in-lens технологию для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах:
- 0,4 нм при 30 кВ Высота образца 1 мм;
- 1,6 нм при 1 кВ Высота образца 2 мм.
Система сфокусированного ионного пучка FB-2100 используется для быстрой и прецизионной подготовки образцов для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.
- Травление и резка образца с микрометровой точностью;
- Ионы Ga (Uacc=10-40 кВ, скорость травления в 4 раза выше чем у аналогов);
- Сканирующий Ионный Микроскоп (SIM) с разрешением = 6нм;
- Возможность осаждения С и W;
- Держатель для образцов совместимый с микроскопами Hitachi;
- Уникальная система для отбора микропроб из образца
Настольный электронный микроскоп TM-3000
Технические характеристики ТМ-3000
Размер: 303х584х565 см
Ускоряющее напряжение: 5кВ, 15кВ
Увеличение: х15-30 000
Разрешение: 30 нм
Глубина резкости: 1 мм
Детектор: Четырехсегментный твердотельный детектор обратнорассеяных электронов
Столик образца: подвижный, диапазон перемещения по оси X - 0 ~ 35 мм, по оси Y - 0 ~ 35 мм
Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 50 мм в высоту
Режимы: обычный 1 ~ 15 Па, низкого вакуума 30 ~ 50 Па
Система откачки воздуха: турбомолекулярный насос и насос с диафрагмой, время откачки до рабочего давления 3 минуты.
Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 незаменим для образовательных учреждений и мобильных лабораторий. Может использоваться для исследований и рутинных работ в:
- медицине и биологии
- криминалистике
- материаловедении
- химии
- фармацевтике
- почвоведении и многих других областях.
Преимущества новой модели TM-3000 по сравнению с предыдущей моделью TM-1000:
- В три раза возросло увеличение - до х30000.
- В два раза увеличена глубина резкости - до 1мм.
- Лучше разрешение (~30 нм) позволяет получить более четкое изображение с большим количеством деталей.
- Больше предельные размеры образца: диам 70 м, высота 50 мм.
- Ускоряющее напряжение 5 кВ и 15 кВ.
- Уменьшены габариты микроскопа.
Режимы низкого или высокого вакуума и ускоряющее напряжение 5 кВ или 15 кВ позволяют подобрать условия для исследования практически любых образцов без предварительной пробоподготовки. Удобный графический пользовательский интерфейс и невероятная простота в обслуживании действительно делают этот прибор надежным помощником в обучении и в решении аналитических задач в лабораторных и полевых условиях. Микроскоп может оснащаться приставкой рентгеновского микроанализа, позволяющей получать информацию о химическом составе исследуемого объекта.
Пробоподготовка образцов для SEM и TEM
 | Система тонкой ионной полировки образцов Gentle Mill 3 Hi Обрабатывает поверхность образцов низкоэнергетическим ионным пучком. Снимает аморфизованные поверхностные слои, повреждения, вызванные механической обработкой. Позволяет наблюдать реальную поверхность, без искажений. |
 | Устройство напыления высокого разрешения K575XD Компактная система напыления с двумя головками и турбомолекулярной откачкой, оптимизированная для отложения тонкозернистых пленок хрома и других металлов, для целей SEM, и тонкопленочных приложений. Две испарительные головки для последовательного многослойного напыления. |
 | Прецизионные отрезные шлифовально-полировальные станки, для приготовления срезов любых материалографических и керамических образцов. Система вакуумной пропитки пористых материалов различными смолами. Система электролитической полировки. |