<!DOCTYPE html> Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si — L.V. Kirensky Institute of Physics
Вы здесь: Главная / Информация / Семинары / Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Совместный семинар Лаборатории физики магнитных явлений (ИФ СО РАН) и Базовой кафедры «Космические материалы и технологии» (СибГАУ)

Когда 2014-06-09
c 10:30 по 11:30
Где конференц-зал главного корпуса
Имя Докладчик: С.А. Лященко
Участники Руководители семинара:
д.ф.-м.н., профессор С.Г. Овчинников
д.ф.-м.н., профессор С.В. Карпов
Добавить событие в календарь vCal (Windows, Linux)
iCal (Mac OS X)

Обсуждение результатов диссертационной работы

Семинары
« Март 2025 »
Март
ПнВтСрЧтПтСбВс
12
3456789
10111213141516
17181920212223
24252627282930
31