<!DOCTYPE html> Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si — L.V. Kirensky Institute of Physics
Вы здесь: Главная / Информация / Семинары / Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Совместный семинар Лаборатории физики магнитных явлений (ИФ СО РАН) и Базовой кафедры «Космические материалы и технологии» (СибГАУ)

Когда 2014-06-09
c 10:30 по 11:30
Где конференц-зал главного корпуса
Имя Докладчик: С.А. Лященко
Участники Руководители семинара:
д.ф.-м.н., профессор С.Г. Овчинников
д.ф.-м.н., профессор С.В. Карпов
Добавить событие в календарь vCal (Windows, Linux)
iCal (Mac OS X)

Обсуждение результатов диссертационной работы

Семинары
« Май 2025 »
Май
ПнВтСрЧтПтСбВс
1234
567891011
12131415161718
19202122232425
262728293031