Развитие метода эллипсометрии для in situ контроля параметров наноструктур Fe/Si

Семинар отдела ФМЯ

Когда	2014-05-20 c 13:30 по 14:30
Где	конференц-зал главного корпуса
Имя	Докладчик: Тарасов И.А.
Участники	Руководитель семинара: д.ф.-м.н., профессор Овчинников С.Г.
Добавить событие в календарь	vCal (Windows, Linux) iCal (Mac OS X)